本文標題："礦物的折射率可用顯微鏡測量-顆粒直徑測量"

礦物的折射率可用顯微鏡測量-顆粒直徑測量
礦物研究

    在兩面拋光薄片或超微薄片對礦物作下述光學(xué)測定的范圍并不是作為一
種建議而提出來(lái)的。我們采用其它補充技術(shù)的經(jīng)驗表明，這只是一種較快速
和可靠的方法。
    在作兩面拋光薄片觀(guān)察時(shí)，我們根據下列光學(xué)性質(zhì)對礦物作初步鑒定:

①外貌，包括顏色、習性、多色性、解理、雙晶，以及其它形貌方面的參數

②與石英、長(cháng)石或其易鑒別的黑色礦物，如云母、角閃石、輝石和其它副礦
物進(jìn)行比較而估定的折射率和重折射率;

③我們偶爾也在錐步下對礦物的延性符號和光性符號作檢查。因我們實(shí)驗室
還備有一臺干涉顯微鏡，可在該鏡上通過(guò)與石英的N?；蛘辰Y樹(shù)膠折射率的
比較來(lái)推定礦物的折射率，進(jìn)而對礦物作初步鑒定。如果經(jīng)過(guò)上述的快速研
究還不能對礦物作出鑒定，那就要在薄片上把這個(gè)礦物的位置用色筆作出標
記，并進(jìn)行顯微照相，以便作下一步的電子探針?lè )治?。目前我們還不能對薄
片中的礦物作就地X射線(xiàn)衍射分析，只好轉向對經(jīng)過(guò)顯微鏡檢測的該礦物壓
碎顆粒進(jìn)行研究，從而可以避免從薄片中揭取細小礦物的困難。

    我們認為，最好同時(shí)對兩面拋光薄片和礦物的松散自由顆粒進(jìn)行研究，
這樣可以相互取長(cháng)補短，以便從很小一點(diǎn)巖石樣品上獲得盡可能多的和準確
可靠的科學(xué)數據。
 

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