本文標題："掃描顯微鏡的工作原理簡(jiǎn)介-上海光學(xué)儀器一廠(chǎng)"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 技術(shù)文章 ------
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掃描探針顯微術(shù)的工作原理
掃描探針顯微術(shù)(Scanning Probe Microscopy:SPM)是近十幾年來(lái)，
因STM的發(fā)明，而蓬勃發(fā)展出來(lái)的一系列顯微技術(shù)的總稱(chēng)。
這些顯微術(shù)都是利用一支微小探針，來(lái)偵測探針尖端與樣品表面之間的某些交互作用。
前面所提的STM是偵測穿隧電流。如是偵測接觸力(原子之間的排斥力)或凡得瓦引力
就稱(chēng)原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope:AFM)。偵測磁
力稱(chēng)磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscope:MFM)。偵測橫向力稱(chēng)橫向力顯微鏡(Lateral Force Microscope;LFM)。
偵測電解液中的法拉第電流稱(chēng)為掃描電化學(xué)顯微鏡(ScanningElectro chemical Microscope)。
在種類(lèi)繁多的SPM中，最常用的兩種技術(shù)是STM及AFM。由于STM 量測的是探針與材料
表面原子之間的穿隧電流。因此樣品限定必須是導體。而AFM則對導體及非導體材料均可適用。所以它在材料科技方
面的應用特別的方便、重要和普遍。
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