本文標題："晶體結構光學(xué)的測定裂紋顆粒界面"
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晶體結構光學(xué)的測定裂紋顆粒界面
光學(xué)性質(zhì)的測定
在聚斂偏光下研究干涉圖可以確定非均質(zhì)晶體的軸性、切片方位
、測定光性符號、二軸晶光軸角和光率體色散等。
1．晶體的軸性和切片方位的確定
根據干涉圖的形象特征及變化規律即可確定晶體的軸性和切片方
位。在聚斂偏光下沒(méi)有干涉圖的都是均質(zhì)晶體，有干涉圖的為非均質(zhì)
晶體。垂直或接近垂直光軸的干涉圖可以確定非均質(zhì)晶體的軸性，這
類(lèi)切片在正交偏光下全消光或僅有較低的干涉色，凡轉動(dòng)物臺干涉圖
的形態(tài)不變，或有一黑帶平行目鏡十字絲掃過(guò)視域者均為一軸晶；
許多光學(xué)性質(zhì)及常數的測定，必須在定向切片上才能測到。一軸
晶常用的是垂直光軸和平行光軸兩種切片，二軸晶常用的有垂直光軸
和平行光軸面的兩種切片。
凡是正交偏光下全消光，
從材料本身條件來(lái)說(shuō)，具有一定鍵角的共價(jià)鍵、強鍵、復雜的晶
格構造和晶體結構是脆性的基礎。與此相反，在金屬中金屬鍵和緊密
球形堆積一般導致塑性變形。
有些無(wú)機非金屬材料在一定的條件下顯示出非脆性或部分脆性行
為。在一定的組成和晶體結構的條件下，有時(shí)會(huì )觀(guān)察到延展性的跡象
或具有完全延展性。表6-6列出了脆性、“半脆性”和延展性無(wú)機非金
屬物質(zhì)的力學(xué)性能。
部分脆性位錯運動(dòng)橫向滑移困難滑移面有限(H80)塑性屈服階段長(cháng)部
分延展性好
彈性直至
斷裂表面裂紋顆粒界面上滑移帶碰撞導致劈裂位錯運動(dòng)橫向滑移
很少滑移面有I~acl)塑性屈服階段短延展性好在斷裂前部分塑性表面
裂紋
延展性!位錯運動(dòng)橫向滑移很少滑移面無(wú)限(A2C1)塑性屆服階段短韌
性斷裂塑性流動(dòng)直至韌性斷裂韌性斷裂
材料的脆性變形要求出現裂紋(楔口)并發(fā)生擴展，這是一個(gè)主要
前提。楔口和裂紋的存在是無(wú)機非金屬材料的典型特征。楔口和裂紋
往往在生產(chǎn)過(guò)程中出現，首先是受熱工過(guò)程中冷凝和微應力的作用。
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