本文標題："截面測量顆粒大小分布計量圖像顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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截面測量顆粒大小分布計量圖像顯微鏡
截面測量計量顆粒的空間大小分布
對集合體中的顆粒一般是從試樣薄片和光片中某個(gè)截面上測量的。由
于截面效應所測得的并不是顆?？臻g真正的大小和分布，因此只有在一定
的假設條件下，才能從截面的測量值推導出顆?？臻g大小的分布。最簡(jiǎn)單
的是把非球狀顆粒假想成同體積的球狀顆粒，按體視學(xué)方法根據投影尺寸
計算球狀顆粒在空間尺寸的分布，主要有截面圓法和弦長(cháng)法，相比之下前
者精度要高一些。進(jìn)行全自動(dòng)圖像分析時(shí)要求用圖像對比度好的樣品。需
要采用半自動(dòng)或人工分析時(shí)，多采用弦長(cháng)法，這樣測量及其數據處理要簡(jiǎn)
單得多。
1．弦長(cháng)法
通過(guò)測量截平面上測試線(xiàn)段在顆粒上所截得弦長(cháng)計算顆粒在空間尺寸
分布的方法，稱(chēng)為弦長(cháng)法。
2．截面圓法
從測定顆粒截面圓的直徑分布來(lái)計算顆粒在空間尺寸分布的方法，稱(chēng)
為截面圓法。
圖像分析粉料試樣的制備
圖像分析的測量范圍和儀器的分辨本領(lǐng)有密切關(guān)系，不同儀器的放大
倍數和分辨本領(lǐng)測量范圍相差甚大，對制備試樣的方法和要求亦不一樣。
圖像分析儀的分辨本領(lǐng)隨聯(lián)機的顯微鏡分辨力而定，光學(xué)儀器的放大倍數
是由幾何光學(xué)決定的，而電子儀器的分辨本領(lǐng)則取決于衍射理論?，F分別
簡(jiǎn)單介紹它們試樣的制備方法和要求。
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