本文標題："掃描電容顯微鏡的應用-上海光學(xué)儀器廠(chǎng)"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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掃描電容顯微鏡的應用-上海光學(xué)儀器廠(chǎng)
掃描電容顯微技術(shù)是將一仟赫茲的AC 偏壓加在欲測半導體試片上或導電探針上，
使此二者之間產(chǎn)生電場(chǎng)，經(jīng)由電場(chǎng)的改變，探針下的自由載子可以改變成為帶正電荷或負電荷，而形成載子空乏或累積區域，
此現象可視為移動(dòng)的電容板。
決定此電容板移動(dòng)的距離之三個(gè)主要因素為施加電場(chǎng)的強度、導電探針與半導體間之介電層（通常為氧化層）的品質(zhì)與厚度、
及自由載子的濃度。自由載子可視為屏障或接收外加電場(chǎng)；當電場(chǎng)強度越大或自由載子濃度越低，
則表面空乏層就會(huì )越深。導電探針與半導體間之介電層的厚度越大，則通過(guò)的電壓降越大。簡(jiǎn)而言之，
掃描電容顯微技術(shù)就是一種具平面解析度的C-V量測技術(shù)，藉由監測外加AC波形偏壓變化下的電容變化值，而觀(guān)察與分析出載子濃度的多維動(dòng)態(tài)影像。
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