本文標題："光學(xué)顯微鏡測定顆粒大小可直接觀(guān)察也可用投影"
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光學(xué)顯微鏡測定顆粒大小可直接觀(guān)察也可用投影
在研究光學(xué)顯微鏡測定顆粒大小的準確性時(shí)表明：在理想條件下觀(guān)
察大于約1μm的顆粒時(shí)偏大0．13μm， 測量顆粒的范圍
可以直接觀(guān)察也可以用投影法觀(guān)察影象。鑒定顆粒都愿用雙目鏡，
做顆粒大小分析多用單目鏡，這是因為可以調節鏡筒長(cháng)度以逐步放大。
多數有經(jīng)驗的操作者愿用直接觀(guān)察。投影法不易使眼睛疲勞，常用于持
續時(shí)間很長(cháng)的計數工作。既可以前投影也可用反投影。用前投影時(shí)因得
到的對比度差，而可在暗室中操作。反投影亮度較好，但影象的清晰度
不好，不過(guò)可以用一種裝置來(lái)校正，即用兩塊互相接觸的毛玻璃投影屏
，一塊相對于另一塊慢慢地移動(dòng)。一些自動(dòng)的和半自動(dòng)的計數和測定顆
粒大小時(shí)裝置從負或正地從事工作。用照相法和光學(xué)顯微鏡結合的主要
缺點(diǎn)是：只有在好的焦距中的顆粒能被測量， 所以容易造成嚴重偏差
。雖然照象法常棱采用而且能得到永久性的記錄，但操作時(shí)間長(cháng)，抵消
了利用高速計數器的優(yōu)點(diǎn)。當進(jìn)行需要稱(chēng)量的計數時(shí)尤為如此，因為從
統計學(xué)觀(guān)點(diǎn)來(lái)看要得到準確的結果應觀(guān)察許多視域。
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